English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Suomi Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Nederland Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Kongeriket Dansk Svenska✕
関連情報 | お問い合わせ | オンラインお問い合わせ |
まず  ページ > プロダクトセンター > ロジックIC > 特殊ロジックIC > SN74BCT8240ADWRE4
SN74BCT8240ADWRE4
部品型番:
SN74BCT8240ADWRE4
メーカー:
説明:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
フリーステータス/ RoHS状態:
鉛フリー/ RoHS準拠
在庫数量:
12425 Pieces
データシート:
SN74BCT8240ADWRE4.pdf
オンラインお問い合わせ

簡潔な

BYCHIPSは、 SN74BCT8240ADWRE4、我々はすぐに出荷するための株式を持っており、また、長い時間の供給が可能です。あなたの購入計画をお送りください SN74BCT8240ADWRE4をメールでお送りします。
購入 SN74BCT8240ADWRE4とBYCHPS
保証付きで購入する

規格

供給電圧:4.5 V ~ 5.5 V
サプライヤデバイスパッケージ:24-SOIC
シリーズ:74BCT
パッケージング:Tape & Reel (TR)
パッケージ/ケース:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
運転温度:0°C ~ 70°C
ビット数:8
装着タイプ:Surface Mount
水分感受性レベル（MSL）:1 (Unlimited)
製造元の部品番号:SN74BCT8240ADWRE4
論理タイプ:Scan Test Device with Inverting Buffers
拡張された説明:Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC
説明:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Email:[email protected]

クイック見積もり

部品型番
数量
会社
Eメール
電話番号
備考

同様のモデルのSN74BCT8240ADWRE4

絵 部品型番 メーカー 説明 ビュー
SN74BCT8245ANTG4 Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP オンラインお問い合わせ
SN74BCT8240ADWRG4 Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC オンラインお問い合わせ
SN74BCT8240ADWR Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC オンラインお問い合わせ
SN74BCT8244ANT Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP オンラインお問い合わせ
SN74BCT8240ANT Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP オンラインお問い合わせ
SN74BCT8240ANTG4 Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP オンラインお問い合わせ
SN74BCT8245ANT Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP オンラインお問い合わせ
SN74BCT8244ADWR Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC オンラインお問い合わせ
SN74BCT8245ADWR Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC オンラインお問い合わせ
SN74BCT8240ADW Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC オンラインお問い合わせ
SN74BCT8244ADWE4 Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC オンラインお問い合わせ
SN74BCT8244ANTG4 Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP オンラインお問い合わせ
SN74BCT8244ADW Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC オンラインお問い合わせ
SN74BCT8245ADW Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC オンラインお問い合わせ

最新ニュース